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時(shí)間:2020/5/6閱讀:2430 關(guān)鍵詞:場(chǎng)效應(yīng)管
設(shè)計(jì)柵極驅(qū)動(dòng)最主要是選擇柵極電壓電平,英飛凌infineon可以讓設(shè)計(jì)師選擇導(dǎo)通柵極電壓在18 V—15 V間,這樣開關(guān)配置具有最高的短路耐用性及載流能力。
并鼓勵(lì)設(shè)計(jì)師在0 V電壓下工作其分立MOS管場(chǎng)效應(yīng)管,這樣能簡(jiǎn)化柵極驅(qū)動(dòng)電路。
寄生開啟效應(yīng)
因柵極電感性及電容性引起的反饋,半導(dǎo)體開關(guān)不期望導(dǎo)通,CoolSiC MOS管場(chǎng)效應(yīng)管在實(shí)際使用時(shí),我們要考慮通過(guò)Miller電容的電容反饋(如下電路圖)
開關(guān)S2體二極管傳導(dǎo)負(fù)載電流IL,直到高側(cè)開關(guān)S1導(dǎo)通。
負(fù)載電流換向S1后,S2漏源電壓開始增加,要拉低或抵消電壓關(guān)斷柵極電阻器,如果此電阻值不夠,那么此電壓有可能超過(guò)閾值電平,因此開關(guān)損耗增加或者是直通。
直通嚴(yán)重風(fēng)險(xiǎn)再于操作條件及測(cè)量硬件,但是主要的是:高總線電壓,電壓陡峭上升,很高的結(jié)溫。此時(shí),導(dǎo)致柵極電壓上拉更強(qiáng),閾值水平降低。
硬件:影響原因與CGD并聯(lián)的(寄生板電容+外部電容器),關(guān)斷柵極電壓,關(guān)斷柵極電阻。
門收費(fèi)特性:實(shí)際是靜態(tài)的
缺點(diǎn):柵極電荷特性實(shí)際靜態(tài),寄生導(dǎo)通動(dòng)態(tài)
特性測(cè)試:
條件:
關(guān)斷柵極電壓=0 V
TO-247 3引腳+4引腳封裝
1200 V / 45mΩCoolSiC MOS管場(chǎng)效應(yīng)管寄生導(dǎo)通
半橋評(píng)估板配置如下電路圖(換流單元)
被測(cè)器件=低端開關(guān),dv / dt發(fā)生器=高端開關(guān)
高側(cè)器件導(dǎo)通時(shí):低側(cè)器件上升漏極—源極間電壓致柵極電壓dvDS / dt,關(guān)斷柵極電阻越低,
寄生導(dǎo)通越小。
測(cè)度目的:確定給定測(cè)試用例臨界關(guān)斷柵極電阻值,與通過(guò)0Ω獲得參考波形比較,
致Q *下降10%的值是臨界柵極電阻,閾值水平為10%時(shí),可獲得測(cè)量數(shù)據(jù),小的可忽略不計(jì)。
測(cè)試條件:
1200 V / 45mΩCoolSiC MOS管場(chǎng)效應(yīng)管
溫度100°C
RGoff值不同
黑色:0Ω 橙色:12Ω 紅色:22Ω
Q * rr =體二極管反向恢復(fù)電荷+半導(dǎo)體電容性電荷(布局+無(wú)源電荷)+寄生匝數(shù)電荷
如下圖
溫度不同,負(fù)載電流不同,電壓斜率不同
后者用高端開關(guān)S1的RGon進(jìn)行調(diào)整
測(cè)1200 V / 45mΩCoolSiC MOS管場(chǎng)效應(yīng)管臨界柵極電阻值與dvDS / dt的關(guān)系
測(cè)試條件:
OFFf柵極電壓=0 V
在800 V和0 A下獲得測(cè)量點(diǎn)
計(jì)算出趨勢(shì)線:虛線
表征結(jié)果
0負(fù)載電流,開關(guān)瞬變之前,被測(cè)電子元器件的體二極管沒(méi)有正向偏置,沒(méi)有二極管恢復(fù)發(fā)生,瞬變:電容充電及放電;
寄生電感感應(yīng)電壓不起作用,TO-247與TO-247-4-pin封裝性能相同;
800 V+0 A得結(jié)果:
防止寄生導(dǎo)通,RGoff更低+dvDS / dt越高+溫度也越高
50 V / ns
溫度175°C
關(guān)斷柵極電壓=0 V
此時(shí):也能防止寄生導(dǎo)通
如下圖
無(wú)法夠低水平選擇RGoff解決方案:
有源Miller鉗位功能驅(qū)動(dòng)器即可解決(如1EDC30I12MH)
負(fù)載電流較高時(shí),S2體二極管—S1 MOS溝道硬換向
二極管反向恢復(fù)+感應(yīng)電壓存在:情況更復(fù)雜
下面三種效果起的作用:
1.體二極管的恢復(fù)減慢速度:平均dvDS / dt +通過(guò)寄生導(dǎo)通解決;
2.換向環(huán)路電感+電子元器件輸出電容間振蕩局部增加dvDS / dt;
3.TO-247封裝,通過(guò)S2公共源極端子產(chǎn)生的負(fù)反饋,使柵極電壓降低,來(lái)提高抗寄生導(dǎo)通強(qiáng)度;
綜上所訴,以上效果取決于硬件設(shè)置,條件:175°C+0A
1200 V碳化硅MOS管場(chǎng)效應(yīng)管技術(shù)比較圖
800 V + 15 A + 150°C
獲得:最小導(dǎo)通開關(guān)損耗
被測(cè)器件:標(biāo)稱通態(tài)電阻=60-80mΩ
柵極在18/0 V+4.7Ω工作
驅(qū)動(dòng)電壓18 / -5 V 下CoolSiC MOS管場(chǎng)效應(yīng)管開關(guān)損耗